[{"data":1,"prerenderedAt":136},["ShallowReactive",2],{"products/xrf-analizatoriai/lt":3},{"status":4,"data":5},true,{"id":6,"image":7,"seo":11,"title":56,"url":63,"blocks":64},671,{"src":8,"ratio":9,"alt":10,"caption":10},"https://web.labradon.lt/wp-content/uploads/2026/08/elementine-analize-horiba-xgt-9000-x-ray-analytical-microscope.jpg",0.873015873015873,"",{"title":12,"robots":13,"og_locale":19,"og_type":20,"og_title":12,"og_url":21,"og_site_name":22,"article_modified_time":23,"og_image":24,"twitter_card":30,"schema":31,"language":60},"XRF analizatoriai | LabRadon",{"index":14,"follow":15,"max-snippet":16,"max-image-preview":17,"max-video-preview":18},"index","follow","max-snippet:-1","max-image-preview:large","max-video-preview:-1","lt_LT","article","https://www.labradon.lt/produktas/xrf-analizatoriai/","LabRadon","2026-08-19T13:05:41+00:00",[25],{"width":26,"height":27,"url":28,"type":29},"2560","1439","https://web.labradon.lt/wp-content/uploads/2026/07/image-61-scaled.jpg","image/jpeg","summary_large_image",{"@context":32,"@graph":33},"https://schema.org",[34,46,57],{"@type":35,"@id":21,"url":21,"name":12,"isPartOf":36,"datePublished":38,"dateModified":23,"breadcrumb":39,"inLanguage":41,"potentialAction":42},"WebPage",{"@id":37},"https://www.labradon.lt/#website","2026-08-08T11:26:55+00:00",{"@id":40},"https://www.labradon.lt/produktas/xrf-analizatoriai/#breadcrumb","lt-LT",[43],{"@type":44,"target":45},"ReadAction",[21],{"@type":47,"@id":40,"itemListElement":48},"BreadcrumbList",[49,54],{"@type":50,"position":51,"name":52,"item":53},"ListItem","1","Home","https://labradon.netlify.app/",{"@type":50,"position":55,"name":56},"2","XRF analizatoriai",{"@type":58,"@id":37,"url":59,"name":22,"description":10,"inLanguage":41},"WebSite","https://www.labradon.lt/",[61],{"url":21,"code":62,"locale":62,"default":4},"lt","/produktas/xrf-analizatoriai/",[65,87,95,128,131],{"acf_fc_layout":66,"use_breadcrumbs":4,"title":67,"text":69,"gallery":70,"button":10,"second_button":75,"breadcrumbs":78,"current_page":56},"AcfProductMain",{"text":56,"header":68},"h1","\u003Cp>XRF, arba rentgeno fluorescencinė analizė, yra elementinės analizės metodas, leidžiantis nustatyti medžiagų elementinę sudėtį naudojant rentgeno spinduliuotę. Mėginys apšviečiamas rentgeno spinduliais, o elementai išspinduliuoja jiems būdingą fluorescencinę spinduliuotę. Pagal šį signalą galima nustatyti, kokie elementai yra mėginyje ir kokios jų koncentracijos.\u003C/p>\n",[71,72],{"src":8,"ratio":9,"alt":10,"caption":10},{"src":73,"ratio":74,"alt":10,"caption":10},"https://web.labradon.lt/wp-content/uploads/2026/08/elementine-analize-horiba-xgt-9000sl-x-ray-analytical-microscope.jpg",1.060939060939061,{"title":76,"url":77,"target":10},"SUSISIEKITE SU MUMIS","/kontaktai/",[79,83],{"id":80,"name":81,"url":82},"8","Titulinis","/",{"id":84,"name":85,"url":86},16,"Elementinė analizė","/kategorija/elementine-analize/",{"acf_fc_layout":88,"title":89,"text":90,"button":10,"layout_color":91,"container_size":92,"padding_top":93,"padding_bottom":94},"AcfText",{"text":10,"header":68},"\u003Cp>\u003Cstrong>HORIBA Scientific\u003C/strong> siūlo energijos dispersijos rentgeno fluorescencijos analizatorius (ED-XRF), skirtus greitai ir dažniausiai nedestruktyviai kietų medžiagų, miltelių ir skysčių elementinei analizei. HORIBA XRF sprendimai naudojami medžiagų tyrimuose, elektronikoje, baterijų, kasybos, perdirbimo ir pramoninės kokybės kontrolės srityse.\u003C/p>\n\u003Cp>\u003Cstrong>Pagrindiniai HORIBA XRF sistemų privalumai\u003C/strong>\u003C/p>\n\u003Cul>\n\u003Cli>Greita elementinės sudėties analizė\u003C/li>\n\u003Cli>Dažniausiai nedestruktyvus metodas\u003C/li>\n\u003Cli>Minimalus mėginio paruošimas\u003C/li>\n\u003Cli>Tinka kietiems mėginiams, milteliams, dangoms, paviršiams ir, naudojant tinkamus indelius, skysčiams\u003C/li>\n\u003Cli>Galimybė atlikti taškinę analizę ir elementų pasiskirstymo žemėlapius\u003C/li>\n\u003Cli>Tinka kokybės kontrolei, gedimų analizei ir priemaišų identifikavimui\u003C/li>\n\u003Cli>Galimybė analizuoti labai mažas sritis naudojant mikro-XRF technologiją\u003C/li>\n\u003C/ul>\n","white","small","pt-default","pb-none",{"acf_fc_layout":96,"title":97,"text":98,"rows":99,"button":10,"layout_color":91,"container_size":92,"padding_top":126,"padding_bottom":127},"AcfTextGroups",{"text":10,"header":68},"\u003Cp>\u003Cstrong>Pagrindinės taikymo sritys\u003C/strong>\u003C/p>\n\u003Cp> \u003C/p>\n",[100,108,114,120],{"items":101},[102,105],{"column_title":103,"text":104},"Taikymo sritys","\u003Cp>\u003Cstrong>Medžiagų mokslas\u003C/strong>\u003C/p>\n",{"column_title":106,"text":107},"Tyrimai","\u003Cul>\n\u003Cli>Metalų, lydinių, keramikos ir stiklo analizė\u003C/li>\n\u003Cli>Paviršių ir dangų tyrimai\u003C/li>\n\u003Cli>Priemaišų identifikavimas\u003C/li>\n\u003C/ul>\n",{"items":109},[110,112],{"column_title":103,"text":111},"\u003Cp>\u003Cstrong>Elektronika ir puslaidininkiai\u003C/strong>\u003C/p>\n",{"column_title":106,"text":113},"\u003Cul>\n\u003Cli>Mikrokomponentų analizė\u003C/li>\n\u003Cli>Plonų sluoksnių tyrimai\u003C/li>\n\u003Cli>Defektų ir užterštumo nustatymas\u003C/li>\n\u003C/ul>\n",{"items":115},[116,118],{"column_title":103,"text":117},"\u003Cp>\u003Cstrong>Kasyba, geologija ir perdirbimas\u003C/strong>\u003C/p>\n",{"column_title":106,"text":119},"\u003Cul>\n\u003Cli>Rūdos ir mineralų analizė\u003C/li>\n\u003Cli>Žaliavų kokybės kontrolė\u003C/li>\n\u003Cli>Perdirbamų medžiagų identifikavimas\u003C/li>\n\u003C/ul>\n",{"items":121},[122,124],{"column_title":103,"text":123},"\u003Cp>\u003Cstrong>Pramoninė kokybės kontrolė\u003C/strong>\u003C/p>\n",{"column_title":106,"text":125},"\u003Cul>\n\u003Cli>Greita žaliavų patikra\u003C/li>\n\u003Cli>Produktų atitikties kontrolė\u003C/li>\n\u003Cli>Gedimų priežasčių analizė\u003C/li>\n\u003C/ul>\n","pt-small","pb-small",{"acf_fc_layout":88,"title":129,"text":130,"button":10,"layout_color":91,"container_size":92,"padding_top":93,"padding_bottom":94},{"text":10,"header":68},"\u003Cp>\u003Cstrong>HORIBA XRF sprendimai jūsų laboratorijai\u003C/strong>\u003C/p>\n\u003Cp>HORIBA XRF sistemos ypač tinka laboratorijoms, kurioms reikia greitos, patogios ir dažniausiai nedestruktyvios elementinės analizės. Šis metodas geriausiai pasiteisina tada, kai reikia greitai patikrinti kietų medžiagų, dangų, dalelių ar paviršių elementinę sudėtį be sudėtingo mėginio paruošimo. HORIBA \u003Cstrong>XGT-9000\u003C/strong> mikro-XRF sistema, pavyzdžiui, skirta didelio našumo mikroanalizei ir gali atlikti analizę mažame taške bei elementų pasiskirstymo žemėlapius.\u003C/p>\n\u003Cp> \u003C/p>\n\u003Cp style=\"text-align: center;\">\u003Cstrong>Sužinokite daugiau\u003C/strong>\u003C/p>\n\u003Cp> \u003C/p>\n",{"acf_fc_layout":132,"title":133,"layout_color":91,"container_size":92,"padding_top":134,"padding_bottom":135},"AcfContactForm",{"text":10,"header":68},"pt-none","pb-default",1787317468655]