Spektroskopinė elipsometrija

Spektroskopinė elipsometrija – tai itin tikslus ir nedestruktyvus optinis analizės metodas, skirtas plonų sluoksnių storiui, optinėms konstantoms bei medžiagų optinėms savybėms nustatyti. Analizės metu matuojami poliarizuotos šviesos pokyčiai, atsirandantys šviesai atsispindėjus nuo mėginio paviršiaus, todėl galima itin tiksliai įvertinti dangų, plėvelių ir daugiasluoksnių struktūrų parametrus.

Ši technologija plačiai naudojama puslaidininkių, fotovoltikos, optikos, ekranų technologijų, nanotechnologijų bei pažangių medžiagų tyrimuose. Spektroskopinė elipsometrija leidžia atlikti matavimus be tiesioginio kontakto su mėginiu, užtikrinant aukštą tikslumą ir minimalų poveikį tiriamai medžiagai.

SUSISIEKITE SU MUMIS

HORIBA Scientific yra vienas pasaulinių spektroskopinės elipsometrijos lyderių, siūlantis pažangias sistemas tiek moksliniams tyrimams, tiek pramoninei kokybės kontrolei. HORIBA elipsometrai vertinami dėl aukšto tikslumo, plataus matavimo diapazono ir galimybės analizuoti sudėtingas daugiasluoksnes struktūras.

Pagrindiniai spektroskopinės elipsometrijos privalumai

Itin tikslus plonų sluoksnių storio nustatymas
Nedestruktyvus ir bekontaktis matavimo metodas
Galimybė nustatyti optines konstantas (n ir k)
Didelis jautrumas nanometrinio storio sluoksniams
Greiti matavimai ir aukštas rezultatų pakartojamumas
Tinka vienasluoksnių ir daugiasluoksnių struktūrų analizei
Minimalus mėginio paruošimas
Galimybė atlikti paviršių ir dangų charakterizavimą

Kodėl verta rinktis HORIBA spektroskopinės elipsometrijos sistemas?

Vienas pasaulinių elipsometrijos technologijų lyderių
Aukštas matavimo tikslumas ir patikimumas
Sprendimai tiek moksliniams tyrimams, tiek pramonei
Pažangi modeliavimo ir duomenų analizės programinė įranga
Platus matavimo konfigūracijų pasirinkimas
Galimybė tirti sudėtingas daugiasluoksnes struktūras
Profesionalus techninis aptarnavimas ir metodinė pagalba
Plačios integravimo galimybės su kitomis tyrimų sistemomis

Pagrindinės taikymo sritys

Taikymo sritys

Puslaidininkių pramonė

Tyrimai

Plonų sluoksnių storio matavimai
Procesų kontrolė gamyboje
Puslaidininkinių struktūrų charakterizavimas

Taikymo sritys

Fotovoltika ir energetika

Tyrimai

Saulės elementų dangų analizė
Optinių sluoksnių charakterizavimas
Naujos kartos energinių medžiagų tyrimai

Taikymo sritys

Optika ir elektronika

Tyrimai

Antirefleksinių dangų tyrimai
Optinių filtrų analizė
Ekranų ir optoelektroninių komponentų kontrolė

Taikymo sritys

Medžiagų mokslas

Tyrimai

Nanostruktūrų tyrimai
Plonų plėvelių charakterizavimas
Naujų funkcinių medžiagų kūrimas

Taikymo sritys

Moksliniai tyrimai

Tyrimai

Paviršių ir dangų analizė
Daugiasluoksnių sistemų modeliavimas
Fundamentiniai fizikos ir chemijos tyrimai

HORIBA Scientific spektroskopinės elipsometrijos sprendimai

HORIBA Scientific siūlo pažangias spektroskopinės elipsometrijos sistemas, skirtas tiek laboratoriniams tyrimams, tiek pramoninei kokybės kontrolei. Šie sprendimai leidžia itin tiksliai matuoti plonų sluoksnių storį, nustatyti optines medžiagų savybes bei analizuoti sudėtingas daugiasluoksnes struktūras. Dėl aukšto tikslumo ir pažangių analizės galimybių HORIBA elipsometrai plačiai naudojami puslaidininkių, fotovoltikos, optikos ir medžiagų mokslo srityse.

Sužinokite daugiau

Vardas

El. paštas

Žinutė

Sutinku suprivatumo politika

Siųsti

Spektroskopinė elipsometrija

Produktai

Įmonė